微分干涉顯微鏡的基本原理與應(yīng)用

微分干涉顯微鏡的基本原理與應(yīng)用

微分干涉顯微鏡，大多為L(zhǎng)CD領(lǐng)域TFT夾層玻璃COG導(dǎo)電性顆粒壓印查驗(yàn)，及其6英尺及以下集成電路單晶硅片在線檢查和實(shí)驗(yàn)室分析，具備顯像清楚，工作距離長(zhǎng)，應(yīng)用便捷。

微分干涉顯微鏡要以平面圖偏振為燈源，光源經(jīng)三棱鏡映射后分為兩束，在不同時(shí)期通過(guò)樣品鄰近位置，再經(jīng)過(guò)另一三棱鏡把這兩束光匯聚，進(jìn)而樣本中薄厚里的細(xì)微區(qū)別便會(huì)轉(zhuǎn)換成明暗度差別，增強(qiáng)了試品差距，導(dǎo)致了標(biāo)本的人為因素三維層次感，相近天然大理石里的浮雕圖案。

微分干涉顯微鏡主要是用于鑒定和剖析金屬內(nèi)部構(gòu)造機(jī)構(gòu)，是金屬學(xué)研究金相分析的主要儀器設(shè)備，是行業(yè)評(píng)定產(chǎn)品品質(zhì)的關(guān)鍵設(shè)備，專門用來(lái)觀查金屬和礦物質(zhì)忍不透明物體合金成分的微分干涉顯微鏡。

這些不透明物體不能在普通透射光顯微鏡中觀查，故微分干涉顯微鏡與普通顯微鏡的重要差別在于前面一種以折射光，后者以透射光照明燈具。

不但可以辨別與分析各種各樣金屬、合金制品、非金屬化學(xué)物質(zhì)的組織結(jié)構(gòu)及集成電路、微顆粒、線纜、化學(xué)纖維、表面噴漆等一些表面情況，微分干涉顯微鏡還能夠廣泛地應(yīng)用于電子器件、化工和儀器儀表行業(yè)觀查不透明物質(zhì)透明色化學(xué)物質(zhì)。

如金屬、瓷器、集成電路、電子裝置、印刷線路板、液晶板、塑料薄膜、粉末狀、炭粉、線纜、化學(xué)纖維、鍍鍍層及其他非金屬材在微分干涉顯微鏡中照明燈具光線從目鏡方位射入被位置與方向表面，被物面散射后再回到目鏡顯像。

但是用微分干涉顯微鏡來(lái)驗(yàn)證剖析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)的組織結(jié)構(gòu)在工業(yè)生產(chǎn)中是十分重要的。它擁有非常廣泛的適用空間。