微分干涉金相顯微鏡特點和運用發表時間:2023-12-29 17:22作者:上海巴拓儀器有限公司 微分干涉金相顯微鏡特點和運用 微分干涉金相顯微鏡所運用的是微分干涉相襯法微分干涉相襯法(DIC),這類分析檢驗方式所運用的范疇也很廣,針對金屬探測是最好的光學顯微鏡挑選。 微分干涉光學顯微鏡對對金相分析樣品的制取要求較低,所觀察過的樣品各組成相間相對性層級關聯突顯,呈很明顯的浮雕圖案狀,對顆粒物、裂痕、孔眼及其突起等能做出準確判斷,可以非常容易分辨很多明賽場下所看不見的或難以辨別的一些構造小細節或缺點,可以進行彩色金相分析攝影等優勢。 但在現在的無損探傷工作上,DIC法還用得非常少。 在金相顯微鏡的檢測方法中,微分干涉相襯法(DIC)是無損探傷的一種強有力專用工具,主要特點大多為: 1、對金相分析樣品的配制規定減少,對于有些樣品,乃至僅需打磨拋光而不需要浸蝕處理即可開展觀察。優點是可以觀察到樣品表層的真實狀態,或者將試件拋光后在真空下產生馬氏體相變,無需浸蝕就能觀察到奧氏體的改變浮凸。 2、所觀察過的表層具有一定的立體感,呈浮雕圖案狀,樣品各組成相間相對性層級關聯都可以顯現出來,對顆粒物、裂痕、孔眼及其突起等都能做出準確判斷,提升了無損探傷精確性,同時也增加了各相間差距。 3、用微分干涉相襯法觀察樣品,會看見明賽場下所看不見的許多細節,明賽場下難以辨別的一些構造小細節或缺點,可以通過微分干涉開展差距提高而容易分辨。 4、微分干涉相襯法基于傳統的正交和偏光鏡法,又巧妙地利用在渥拉斯頓三棱鏡前提下改良的DIC 三棱鏡和補眉器(λ-片)等,使所觀察的樣品以電子光學干涉的辦法沾染豐富的色彩,進而可以利用彩色膠片或是電子產品(CCD 監控攝像頭及其數碼照相機)開展彩色金相分析顯微攝影。 因為微分干涉相襯得效果和樣品細節上的浮雕像及其顏色都是能夠調節,因此比正交和偏光鏡更加優異。 微分干涉相襯法在原材料無損探傷中的運用: 選用微分干涉相襯法觀察樣品,會看見明賽場下所看不見的許多細節,在明賽場下難以辨別的一些構造小細節或缺點,可以通過微分干涉開展差距提高,繼而在分析過程中就比較容易分辨。 當代原材料科技的進步,規定更加精準的合金成分辨別和分析,通常需要對金相組織的結構、總數、遍布、尺寸、總面積等數據進行準確的數據分析,如球墨鑄件球化率定級、鐵素體(金相組織)百分含量、第二相顆粒幾何參數及分布等,都要對圖像進行精確的形態描述和精確的數據計量檢定。 但在傳統明賽場下所收集到的數字圖像處理的品質在一定程度上取決于樣品的制作總體水平,與此同時由于不同的物相在明賽場下表現出來的灰度值層級很有可能十分相仿,對定量分析金相分析得到的結果會造成很大的偏差。 假如相互配合微分干涉相襯,把要有興趣的 物相根據干涉沾染顏色,就可以開始更準確的定量分析金相檢驗,并且對樣品制取的要求也會有所降低。 |