顯微鏡微分干涉原理介紹

顯微鏡微分干涉原理介紹

   工業金相顯微鏡中常使用到微分干涉金相顯微鏡，而微分干涉技術是出現在60年代，這項技術的出現，大大的提高了顯微鏡的檢測效果，微分干涉技術不僅能觀察無色透明的被測物，還可以在圖像顯現出立體感。可以說效果更優于相襯技術，觀察效果更逼真。

    原理：微分干涉鏡檢術是利用特制的渥拉斯頓棱鏡來分解光束。分裂出來的光束的振動方向相互垂直且強度相等，光束分別在距離很近的兩點上通過被檢物體，在相位上略有差別。由于兩光束的裂距極小，而不出現重影現象，使圖像呈現出立體的三維感覺。  

    DIC 顯微鏡的物理原理完全不同于相襯顯微鏡，技術設計要復雜得多。DIC 利用的是偏振光，有四個特殊的光學組件：偏振器(polarizer)、DIC 棱鏡、DIC 滑行器和檢偏器(analyzer)。

    偏振器直接裝在聚光系統的前面，使光線發生線性偏振。在聚光器中則安裝了偌瑪斯基棱鏡，即DIC 棱鏡，此棱鏡可將一束光分解成偏振方向不同的兩束光(x 和y)，二者成一小夾角。

    聚光器將兩束光調整成與顯微鏡光軸平行的方向。最初兩束光相位一致，在穿過標本相鄰的區域后，由于標本的厚度和折射率不同，引起兩束光發生了光程差。

    在物鏡的后焦面處安裝了第二個偌瑪斯基棱鏡，即DIC 滑行器，它把兩束光波合并成一束。這時兩束光的偏振面(x 和y)仍然存在。

    最后光束穿過第二個偏振裝置，即檢偏器。在光束形成目鏡DIC 影像之前，檢偏器與偏光器的方向成直角。檢偏器將兩束垂直的光波組合成具有相同偏振面的兩束光，從而使二者發生干涉。x 和y 波的光程差決定著透光的多少。光程差值為0 時，沒有光穿過檢偏器；光程差值等于波長一半時，穿過的光達到最大值。于是在灰色的背景上，標本結構呈現出明暗差。

    為了使影像的反差達到最佳狀態，可通過調節DIC 滑行器的縱行微調來改變光程差，光程差可改變影像的亮度。調節DIC 滑行器可使標本的細微結構呈現出正或負的投影形象，通常是一側亮，而另一側暗，這便造成了標本的人為三維立體感，類似大理石上的浮雕。